고급 반도체 노드의 PDK 개발 관련, PathWave 디바이스 모델링 및 시뮬레이션 정확도 개선
키사이트테크놀로지스가 삼성 파운드리에서 반도체 디바이스의 플리커 노이즈(1/f 노이즈)와 랜덤 텔레그래프 노이즈(RTN)를 측정 및 분석하기 위해 키사이트의 E4727B 고급 저주파수 노이즈 분석기(A-LFNA)를 공급했다고 밝혔다.
실리콘 제조업체의 첨단 기술을 목표로 하는 삼성 파운드리 고객들은 가장 정확한 A-LFNA 데이터 기반 시뮬레이션 모델을 포함하는 프로세스 설계 키트(PDK)를 통해 무선 주파수(RF) 및 아날로그 회로를 설계 및 검증할 수 있다.
키사이트의 E4727B A-LFNA는 반도체 디바이스의 저주파수 노이즈를 측정하는 턴키 솔루션이다. PathWave A-LFNA 측정 및 프로그래밍 소프트웨어는 PathWave WaferPro(WaferPro Express) 측정 플랫폼을 기반으로 만들어졌다. 엔지니어는 유연하고 확장 가능한 측정 시스템에서 전체 웨이퍼 레벨 디바이스 특성화 워크플로를 관리하고 자동화할 수 있다.
그 다음 엔지니어들이 시스템의 측정 데이터를 키사이트의 PathWave 디바이스 모델링(IC-CAP) 및 PathWave 모델 빌더(MBP) 소프트웨어로 가져와 PDK 개발을 위한 디바이스 모델을 추출하면 아주 정확한 RF 및 아날로그 저노이즈 회로 설계 및 시뮬레이션이 가능하다.
