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NI PXI Semiconductor Test Suite으로 PXI 기능 확장

내쇼날인스트루먼트(www.ni.com/korea)는 혼합 신호 반도체 테스트를 위한 PXI의 기능을 확장하는 PXI 제품 10가지를 새로 선보인다. 소프트웨어로 정의되는 신제품들은 NI LabVIEW에 최적화되어 있으며 4개의 고속 디지털 I/O (HSDIO) 계측기, 2개의 디지털 스위치, 2개의 향상된 RF 계측기, 고정밀 SMU(Source Measure Unit), 특화된 디지털 벡터 반입 소프트웨어를 포함한다.

새로 출시된 NI PXI Semiconductor Suite은 200 MHz 싱글 엔드 디지털 I/O, 10 pA 전류 해상도, 신속한 멀티밴드 RF 측정, DC/디지털 스위칭 및 Waveform Generation Language (WGL), IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) 파일 반입 기능 등 수많은 새 기능들을 통합한다.

PXI Semiconductor Suite은 ADC, DAC, 전원 관리 IC, 무선 IC, MEMS (Microelectromechanical System) 디바이스와 같은 일반 반도체 디바이스 테스트를 위한 PXI 기능 확장을 지속한다. 본 제품의 고급 기능으로 인해 반도체 디바이스의 특성화, 검증, 제조 테스트에 사용되는 기존 박스형 계측과 ATE 솔루션과 비교 시 보다 뛰어난 처리량과 유연성 그리고 빠른 개발 시간을 제공한다.

HSDIO 계측기의 NI PXIe-654x 제품군에는 최고 200 MHz의 싱글 엔드 클럭 속도와 최고 400 Mbps 데이터 속도를 제공하는 4개의 새로운 모듈을 포함하고 있어 고속 칩 디자인을 테스트하고 보다 빠른 맞춤 통신 프로토콜을 수용하는 것이 가능하다. 본 제품군의 고급 디지털 모듈은 양방향 통신, 리얼타임 비트 비교, 두 배의 데이터 속도 기능, 다른 I/O 라인에 대한 여러 타이밍 지연 그리고 22개의 다른 전압 레벨(1.2 ~ 3.3 V) 같은 여러 추가적인 기능들이 향상된 디지털 I/O 테스트 유연성을 위해 포함되어 있다. 이 같은 새 디지털 I/O 디바이스들은 NI PXI-654x, PXI-655x 시리즈 고속 디지털 제품군들을 최고 200 MHz의 싱글엔드 및 LVDS 전압 기능을 가진 10개의 PXI 계측기로 확장한다.

향상된 디지털 I/O 유연성 제공

NI PXIe-5663E와 NI PXIe-5673E 6.6 GHz RF PXI Express 벡터 신호 분석기 그리고 벡터 신호 생성기는 RF List Mode라고 하는 새 기능을 이용하여 RF 구성에서 빠르고 결정성 있는 변경을 통해 향상된 측정 속도를 제공하여 테스트 시간을 획기적으로 줄일 수 있다. 새로운 기능을 이용하면 다른 RF 구성을 통해 신속한 주기로 사전 구성된 계측기 파라미터를 다운로드하는 것이 가능하다. 이는 여러 주파수에 대한 성능 확인이 필요한 전력 증폭기와 기타 RFIC를 테스트할 때 특히 유용하다. 추가된 본 기능을 이용하는 RF 엔지니어들은 기존 계측기와 비교하여 훨씬 빠르게 멀티 밴드 RF 측정을 수행할 수 있다.

PXI Semiconductor Suite은 NI PXI 고속 디지털 제품을 사용할 때 WGL 및 STIL 디지털 벡터 포맷을 효율적으로 반입하여 간단한 디자인-테스트 통합을 수행하는 솔루션을 도입하였다. NI와 Test Systems Strategies, Inc. (TSSI) 협력의 결과물인 내쇼날인스트루먼트 소프트웨어용 TSSI TD-Scan을 이용하는 반도체 테스트 엔지니어는 PXI 시스템에 WGL 및 STIL 시뮬레이션 벡터를 반입하는 것이 가능한데, 이전에 본 태스크를 수행하려면 직접 소프트웨어 개발이 필요했었다.

아이씨엔 매거진 2009년 12월호

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